Внутрисхемный контроль плат. Этот контроль означает проверку отдельных компонентов на плате, причем при тестировании компонента исключается влияние параллельных цепей. Позволяет обнаружить дефектные компоненты, измерить индуктивность и емкость в реальной схеме, найти короткие замыкания и разрывы соединений, проверить полярность диодов, транзисторов, электролитических конденсаторов и т. д.
В нашей системе внутрисхемного электрического контроля GenRad GR228X используется метод адаптера (метод «поле контактов»). Этот адаптер состоит из множества контактов (зондов), которые подключаются к контрольным точкам платы.Проверка плат с помощью этого метода заключается в их установке на тестовые адаптеры, с последующей проверкой соединений между компонентами (т.е. обнаружения коротких замыканий/обрывов низким напряжением, около 10 В) и контролем изоляции на утечку и пробой высоким напряжением (до 500 В). Наличие тестовых зондов в переходных отверстиях, физически расположенных на одной дорожке печатной платы, позволяет достаточно точно локализовать обрывы. Проверка даже самой сложной платы данным методом занимает всего несколько секунд. Число контактов приспособления можно расширять до 1920. Тестер обладает высоким покрытием неисправностей, точным их диагностированием, высокой производительностью.
Тестовая установка работает под управлением внешнего тестового контроллера, который подключается через интерфейс к инструментальному шасси . К этому же интерфейсу через специальную адаптерную систему подключаются тестируемые модули и электронные блоки.
Тестовая установка предназначена для функциональной проверки кабельных соединений вмонтированных в разъёмы. Установка адаптированна для всех видов существующих в промышленности разъёмов. Установка предназначена для проверки сложных кабельных разветвлений от 2 до 5 разъёмов.
На нашем заводе имеется испытательная термокамера предназначенная для проведения температурных испытаний. Ее температурный диапазон варьируется до +50oС, а объем камеры достигает 13 м3.